Atomik kuvvet mikroskopisi (AFM) küçük örneklerin yüzeyini tarayarak görüntü elde etmenin onlarca farklı yöntemini kapsayan taramalı sonda mikroskopisinin bir alt dalı. AFM, yalnızca birkaç nanometre uzunluktaki nesnelerin görüntülerini çözümleyebiliyor ve böylece en iyi optik mikroskopların 1.000 katından daha keskin görüntü sunabiliyor.
Atomik kuvvet mikroskopları genellikle uzunluğu mikrometre cinsinden ölçülen inanılmaz derecede ince silikon uca, yani sondaya sahip bir manivela kullanıyor. Sondanın ucunun çapı 10 nanometreden küçük. Manivelanın ucu, örneğin yüzeyi üstünde hareket ediyor ve belirlenen ayarlara göre, örneğe değiyor ya da arada küçük bir boşluk bırakıyor.
Bu mikroskoplar iki farklı kategoriye giren değişik modlarda çalışabiliyor. Bunlardan biri statik, diğeriyse dinamik. Statik, yani temaslı modda manivela, örneğin yüzeyinde fiziksel olarak sürükleniyor ve böylece örneğin dış hatları doğrudan ölçülüyor. Dinamik, yani temassız modda ise manivela titreştiriliyor ve örnekle etkileşiminden kaynaklanan çeşitli kuvvetler kaydediliyor. Dinamik modun, temasın hem uca hem de örneğe zarar verebileceği “yumuşak” örnekler üstünde kullanılma gibi bariz bir avantajı var.
Atomik Kuvvet Mikroskopisi : Artıları Ve Eksileri
Taramalı elektron mikroskopisi (SEM), atomik kuvvet mikroskopisindekilere benzer boyutta örnekleri gösteren farklı bir mikroskop türü. AFM’nin SEM karşısında bazı avantajları olmakla birlikte, dezavantajları da yok değil.
SEM yalnızca 2B görüntü sunabiliyor ve örneklerin üstünün özel olarak kaplanmasını gerektiriyor. AFM ise, örneğin 3B profilini çıkarabiliyor ve kaplama da gerektirmiyor. Böylece SEM sürecinin değiştirebileceği ya da zarar verebileceği örnekler (mesela mikro organizmalar) AFM ile incelenebiliyor. AFM aynı zamanda diğer optik tekniklerle birlikte kullanılarak sıvı ortamlarda bile daha yüksek çözünürlük sunabiliyor.
AFM’nin dezavantajıysa örnek tarama büyüklüğünün SEM’in tek geçişte yakalayabildiğinden 1.000 kat kadar küçük olması. Tarama hızı çok düşük ve atomik kuvvet mikroskopları, özel olarak modifiye edilmediği sürece çok girintili çıkıntılı topografiye sahip örnekleri görüntüleyemiyor.
Kaynak: How It Works